Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Παραπομπή Chicago StyleBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Παραπομπή MLABirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.