Citace podle APA

Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.

Styl Chicago

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

Citace podle MLA

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..