Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
استشهاد بنمط شيكاغوBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
MLA استشهادBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.