Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Styl cytowania ChicagoBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Styl cytowania MLABirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..