Fundamental principles of engineering nanometrology

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Leach, Richard K
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Amsterdam Elsevier 2010
Témata:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 681.2:620.3 LEA
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky