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Fundamental principles of engineering nanometrology
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| 主題: |
UL
| 請求記号: |
681.2:620.3 LEA |
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| 所蔵 | ステータス情報は利用できません |