Fundamental principles of engineering nanometrology

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Leach, Richard K
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Amsterdam Elsevier 2010
الموضوعات:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
الوصف
وصف مادي:xxvi, 321p.
ردمك:9780080964546

مواد مشابهة