Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Haight, Richard; ed (ed. by)
Tác giả khác: Ross, Frances M, Hannon, James B
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Singapore World Scientific publishing 2012
Loạt:World scientific series in materials and energy
Những chủ đề:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Số hiệu: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng

Những quyển sách tương tự