Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Библиографические подробности
Главный автор: Haight, Richard; ed (ed. by)
Другие авторы: Ross, Frances M, Hannon, James B
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Singapore World Scientific publishing 2012
Серии:World scientific series in materials and energy
Предметы:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Подробно о фондах из UL
Шифр: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Копировать Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working)
Копировать Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working)

Схожие документы