Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Haight, Richard; ed (ed. by)
Andere auteurs: Ross, Frances M, Hannon, James B
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Singapore World Scientific publishing 2012
Reeks:World scientific series in materials and energy
Onderwerpen:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Kopie Status is onbeschikbaar
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items