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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Détails bibliographiques
Auteur principal: Haight, Richard; ed (ed. by)
Autres auteurs: Ross, Frances M, Hannon, James B
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Singapore World Scientific publishing 2012
Collection:World scientific series in materials and energy
Sujets:

UL

Informations d'exemplaires de UL
Cote: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
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