Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Haight, Richard; ed (ed. by)
Beste egile batzuk: Ross, Frances M, Hannon, James B
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Singapore World Scientific publishing 2012
Saila:World scientific series in materials and energy
Gaiak:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Aleari buruzko argibideak UL
Sailkapena: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri

Antzeko izenburuak