Načítá se...

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Haight, Richard; ed (ed. by)
Další autoři: Ross, Frances M, Hannon, James B
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Singapore World Scientific publishing 2012
Edice:World scientific series in materials and energy
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost