Wordt geladen...

QR code

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Haight, Richard; ed (ed. by)
Andere auteurs:	Ross, Frances M, Hannon, James B
Formaat:	Printed Book
Taal:	English
Gepubliceerd in:	Singapore World Scientific publishing 2012
Reeks:	World scientific series in materials and energy
Onderwerpen:	Semiconductors Nanostructures - Electronmicroscopy x-ray diffraction Scanning microscopy

Gelijkaardige items

Wordt geladen...

Techniques in microscopy and cell biology
door: Sharma, V K
Gepubliceerd in: (1991)

Wordt geladen...

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
door: Klug, Harold P.
Gepubliceerd in: (1974)

Wordt geladen...

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis analytical chemistry by open learning
door: Lawes, Grahame
Gepubliceerd in: (2008)

Wordt geladen...

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
door: LAWES GRAHAME
Gepubliceerd in: (2008)

Wordt geladen...

Strain and dislocation gradients from diffraction spatially-resolved local structure and defects
door: Barabash, Rozaliya; ed
Gepubliceerd in: (2014)

Wordt geladen...

Effect of disorder and defects in ion-implanted semiconductors: electrical and physiochemical characterization
Gepubliceerd in: (1997)

Wordt geladen...

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
door: Klug, Harold P.
Gepubliceerd in: (1954)

Wordt geladen...

Elements of x-ray diffraction /
door: Cullity, B. D.
Gepubliceerd in: (1978)

Wordt geladen...

X-ray diffraction: a practical approach
door: Suryanarayana, C
Gepubliceerd in: (1998)

Wordt geladen...

X-ray diffraction: a practical approach
door: Suryanarayana, C
Gepubliceerd in: (1998)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction
door: CULLITY.B.D and STOCK S.R
Gepubliceerd in: (2001)

Wordt geladen...

Basic concepts of X-ray diffraction
door: ZOLOTOYABKO,Emil
Gepubliceerd in: (2014)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction
door: Cullity, B D; Stock S R
Gepubliceerd in: (2018)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction
door: Cullity, B D; Stock S R
Gepubliceerd in: (2018)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction
door: Cullity, B D; Stock S R
Gepubliceerd in: (2018)

Wordt geladen...

X-ray diffraction Procedures
door: Klug, Harold P; Alexander, Leroy E
Gepubliceerd in: (1970)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction
door: Cullity, B D
Gepubliceerd in: (1978)

Wordt geladen...

Diffraction X-ray optics /
door: Erko, A. I.
Gepubliceerd in: (1996)

Wordt geladen...

X-ray diffraction procedures
door: Klzig, Harold P.
Gepubliceerd in: (1954)

Wordt geladen...

Physics of semiconductor nanostructures
door: Jain, K.P
Gepubliceerd in: (1997)

Wordt geladen...

Semiconductor nanostructures
door: Bimberg, Dieter.,ed
Gepubliceerd in: (2008)

Wordt geladen...

Modern metallographic techniques and their applications
door: Phillips,Victor A
Gepubliceerd in: (1971)

Wordt geladen...

X-ray diffraction /
Gepubliceerd in: (1974)

Wordt geladen...

Multiple diffraction of x-rays in crystals /
door: Chang, Shih-Lin
Gepubliceerd in: (1984)

Wordt geladen...

X-ray diffraction
Gepubliceerd in: (1974)

Wordt geladen...

Elements of X-ray diffraction.
door: Cullity, B. D.
Gepubliceerd in: (1956)

Wordt geladen...

Coherent X-Ray Optics
door: Paganin, David
Gepubliceerd in: (2007)

Wordt geladen...

X-ray diffraction by disordered lamellar structures: theory and applications to microdivided silicates and carbons
door: Drits, Victor A
Gepubliceerd in: (1990)

Wordt geladen...

Basics of X-ray diffraction and its applications /
Gepubliceerd in: (2007)

Wordt geladen...

X-ray diffraction
door: Azaroff, Leonid V, et al
Gepubliceerd in: (1974)

Wordt geladen...

Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
door: Samori, Paolo; Editor
Gepubliceerd in: (2006)

Wordt geladen...

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
door: Goldstein, Joseph I
Gepubliceerd in: (2018)

Wordt geladen...

X-ray diffraction methods
door: Nziffield, E. W.

Wordt geladen...

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Gepubliceerd in: (2010)

Wordt geladen...

Synthesis crystal growth and characterization
door: Krishanan Lal,Ed
Gepubliceerd in: (1982)

Wordt geladen...

Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
door: Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
Gepubliceerd in: (2007)

Wordt geladen...

Optics of semiconductors and their nanostructures /
Gepubliceerd in: (2004)

Wordt geladen...

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
door: Guinebretiere, Rene
Gepubliceerd in: (2007)

Wordt geladen...

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
door: Guinebretiere, Rene
Gepubliceerd in: (2007)

Wordt geladen...

Diffraction of X-rays by chain molecules,
door: Vainshtein, B. K.
Gepubliceerd in: (1966)