טוען...

QR Code

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Haight, Richard; ed (ed. by)
מחברים אחרים:	Ross, Frances M, Hannon, James B
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	Singapore World Scientific publishing 2012
סדרה:	World scientific series in materials and energy
נושאים:	Semiconductors Nanostructures - Electronmicroscopy x-ray diffraction Scanning microscopy

פריטים דומים

Techniques in microscopy and cell biology
מאת: Sharma, V K
יצא לאור: (1991)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
מאת: Klug, Harold P.
יצא לאור: (1974)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis analytical chemistry by open learning
מאת: Lawes, Grahame
יצא לאור: (2008)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
מאת: LAWES GRAHAME
יצא לאור: (2008)

Strain and dislocation gradients from diffraction spatially-resolved local structure and defects
מאת: Barabash, Rozaliya; ed
יצא לאור: (2014)

Effect of disorder and defects in ion-implanted semiconductors: electrical and physiochemical characterization
יצא לאור: (1997)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
מאת: Klug, Harold P.
יצא לאור: (1954)

Elements of x-ray diffraction /
מאת: Cullity, B. D.
יצא לאור: (1978)

X-ray diffraction: a practical approach
מאת: Suryanarayana, C
יצא לאור: (1998)

X-ray diffraction: a practical approach
מאת: Suryanarayana, C
יצא לאור: (1998)

Elements of X-ray diffraction
מאת: CULLITY.B.D and STOCK S.R
יצא לאור: (2001)

Basic concepts of X-ray diffraction
מאת: ZOLOTOYABKO,Emil
יצא לאור: (2014)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D; Stock S R
יצא לאור: (2018)

X-ray diffraction Procedures
מאת: Klug, Harold P; Alexander, Leroy E
יצא לאור: (1970)

Elements of X-ray diffraction
מאת: Cullity, B D
יצא לאור: (1978)

Diffraction X-ray optics /
מאת: Erko, A. I.
יצא לאור: (1996)

X-ray diffraction procedures
מאת: Klzig, Harold P.
יצא לאור: (1954)

Physics of semiconductor nanostructures
מאת: Jain, K.P
יצא לאור: (1997)

Semiconductor nanostructures
מאת: Bimberg, Dieter.,ed
יצא לאור: (2008)

Modern metallographic techniques and their applications
מאת: Phillips,Victor A
יצא לאור: (1971)

X-ray diffraction /
יצא לאור: (1974)

Multiple diffraction of x-rays in crystals /
מאת: Chang, Shih-Lin
יצא לאור: (1984)

X-ray diffraction
יצא לאור: (1974)

Elements of X-ray diffraction.
מאת: Cullity, B. D.
יצא לאור: (1956)

Coherent X-Ray Optics
מאת: Paganin, David
יצא לאור: (2007)

X-ray diffraction by disordered lamellar structures: theory and applications to microdivided silicates and carbons
מאת: Drits, Victor A
יצא לאור: (1990)

Basics of X-ray diffraction and its applications /
יצא לאור: (2007)

X-ray diffraction
מאת: Azaroff, Leonid V, et al
יצא לאור: (1974)

Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
מאת: Samori, Paolo; Editor
יצא לאור: (2006)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
מאת: Goldstein, Joseph I
יצא לאור: (2018)

X-ray diffraction methods
מאת: Nziffield, E. W.

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
יצא לאור: (2010)

Synthesis crystal growth and characterization
מאת: Krishanan Lal,Ed
יצא לאור: (1982)

Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
מאת: Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
יצא לאור: (2007)

Optics of semiconductors and their nanostructures /
יצא לאור: (2004)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
מאת: Guinebretiere, Rene
יצא לאור: (2007)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
מאת: Guinebretiere, Rene
יצא לאור: (2007)

Diffraction of X-rays by chain molecules,
מאת: Vainshtein, B. K.
יצא לאור: (1966)