Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Haight, Richard; ed (ed. by)
Altri autori: Ross, Frances M, Hannon, James B
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: Singapore World Scientific publishing 2012
Serie:World scientific series in materials and energy
Soggetti:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

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Collocazione: 621.382:681.7 HAI.1 R
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