Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Haight, Richard; ed (ed. by)
Altres autors: Ross, Frances M, Hannon, James B
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: Singapore World Scientific publishing 2012
Col·lecció:World scientific series in materials and energy
Matèries:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy
LEADER 01149 a2200253 4500
005 20151026133135.0
008 130225t xxu||||| |||| 00| 0 eng d
080 |a 621.382:681.7  |b HAI.1-.2 R 
100 |a Haight, Richard; ed.  |e ed. by  |9 22991 
245 |a Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization   |c ed. by Richard Haight, Frances M. Ross and James B. Hannon 
300 |a 2v. 610p. 
490 |a World scientific series in materials and energy 
653 |a Semiconductors 
653 |a Nanostructures - Electronmicroscopy 
653 |a x-ray diffraction 
653 |a Scanning microscopy 
700 |a Ross, Frances M  |9 22992 
700 |a Hannon, James B  |9 22993 
942 |c REF  |6 _ 
260 |b World Scientific publishing  |c 2012  |a Singapore  |9 22102 
020 |a 9789814322805 
999 |c 63930  |d 63930 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |6 6213826817_HAI1R  |7 1  |9 76310  |a UL  |b UL  |c REF  |d 2012-02-24  |e 89  |g 0.00  |o 621.382:681.7 HAI.1 R  |p 00067570  |r 2012-02-24  |v 0.00  |w 2012-02-24  |y REF 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |6 6213826817_HAI2R  |7 1  |9 76311  |a UL  |b UL  |c REF  |d 2013-02-25  |o 621.382:681.7 HAI.2 R  |p 00067571  |r 2013-02-25  |w 2013-02-25  |y REF 

Ítems similars