Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Haight, Richard; ed (ed. by)
Tác giả khác: Ross, Frances M, Hannon, James B
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Singapore World Scientific publishing 2012
Loạt:World scientific series in materials and energy
Những chủ đề:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy
Miêu tả
Mô tả vật lý:2v. 610p.
số ISBN:9789814322805

Những quyển sách tương tự