Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Haight, Richard; ed (ed. by)
Outros Autores: Ross, Frances M, Hannon, James B
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: Singapore World Scientific publishing 2012
Colecção:World scientific series in materials and energy
Assuntos:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy
Descrição
Descrição Física:2v. 610p.
ISBN:9789814322805

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