Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Haight, Richard; ed (ed. by)
Muut tekijät: Ross, Frances M, Hannon, James B
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Singapore World Scientific publishing 2012
Sarja:World scientific series in materials and energy
Aiheet:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy
Kuvaus
Ulkoasu:2v. 610p.
ISBN:9789814322805

Samankaltaisia teoksia