Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Haight, Richard; ed (ed. by)
Weitere Verfasser: Ross, Frances M, Hannon, James B
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore World Scientific publishing 2012
Schriftenreihe:World scientific series in materials and energy
Schlagworte:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy
Beschreibung
Beschreibung:2v. 610p.
ISBN:9789814322805

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