In situ characterization of thin film growth

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Koster, Gertjan (Ed. by)
Drugi avtorji: Rijnders, Guus; ed.by
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Serija:Woodhead publishing in materials
Teme:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 539.216 KOS
Kopija Zaloga ni dosegljiva

Podobne knjige/članki