In situ characterization of thin film growth

Détails bibliographiques
Auteur principal: Koster, Gertjan (Ed. by)
Autres auteurs: Rijnders, Guus; ed.by
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Collection:Woodhead publishing in materials
Sujets:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

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Cote: 539.216 KOS
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