In situ characterization of thin film growth

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Koster, Gertjan (Ed. by)
مؤلفون آخرون: Rijnders, Guus; ed.by
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Cambridge Woodhead Publishing 2011
سلاسل:Woodhead publishing in materials
الموضوعات:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الطلب: 539.216 KOS
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة