Wordt geladen...
In situ characterization of thin film growth
| Hoofdauteur: | Koster, Gertjan (Ed. by) |
|---|---|
| Andere auteurs: | Rijnders, Guus; ed.by |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Cambridge
Woodhead Publishing
2011
|
| Reeks: | Woodhead publishing in materials
|
| Onderwerpen: |
Gelijkaardige items
-
In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss.
Gepubliceerd in: (2001) -
Diffraction from rough surfaces and dynamic growth fronts /
door: Yang, H.-N
Gepubliceerd in: (1993) -
Thin film growth physics, materials science and applications
door: Cao, Zexian ed
Gepubliceerd in: (2011) -
Analytical techniques for thin films /
Gepubliceerd in: (1988) -
High-T Thin Films and Single Crystals
door: Gorzkowski,W
Gepubliceerd in: (1990)