In situ characterization of thin film growth

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Koster, Gertjan (Ed. by)
מחברים אחרים: Rijnders, Guus; ed.by
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Cambridge Woodhead Publishing 2011
סדרה:Woodhead publishing in materials
נושאים:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 539.216 KOS
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים