In situ characterization of thin film growth

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Koster, Gertjan (Ed. by)
Další autoři: Rijnders, Guus; ed.by
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Edice:Woodhead publishing in materials
Témata:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 539.216 KOS
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky