In situ characterization of thin film growth

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Koster, Gertjan (Ed. by)
Outros autores: Rijnders, Guus; ed.by
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Series:Woodhead publishing in materials
Subjects:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth
Descripción
Descrición Física:xi, 282p.
ISBN:9781845699345

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