In situ characterization of thin film growth

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Koster, Gertjan (Ed. by)
Otros Autores: Rijnders, Guus; ed.by
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Colección:Woodhead publishing in materials
Materias:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth
Descripción
Descripción Física:xi, 282p.
ISBN:9781845699345

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