Ładuje się......

Reliability of MEMS:testing of materials and devices

Opis bibliograficzny
1. autor: Tabata,Osamu (ed.by)
Kolejni autorzy: Tsuchiya, Toshiyuki
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Weinheim Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2008
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 621.382 TAB
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana