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Reliability of MEMS:testing of materials and devices

Détails bibliographiques
Auteur principal: Tabata,Osamu (ed.by)
Autres auteurs: Tsuchiya, Toshiyuki
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Weinheim Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2008
Sujets:

UL

Informations d'exemplaires de UL
Cote: 621.382 TAB
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