Semiconductors probed by ultrafust laser spectroscopy

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Alfano, R.R. [ed.] (ed. by)
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Orlando Academic Press. inc. 1984
Schlagworte:
Laser spectroscopy > Semiconductor device

UL

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Signatur: 535.374 ALF.2
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