Загрузка...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York
Springer
2008
|
| Предметы: |
UL
| Шифр: |
620.3 TEH |
|---|---|
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |