Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York Springer 2008
Onderwerpen:
Nanotechnology > Quantum- dot cellular Automata

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 620.3 TEH
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items