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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
New York
Springer
2008
|
| 主題: |
UL
| 請求記号: |
620.3 TEH |
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| 所蔵 | ステータス情報は利用できません |