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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
1. Verfasser: | |
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Format: | Printed Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
New York
Springer
2008
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Schlagworte: |
UL
Signatur: |
620.3 TEH |
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Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |