Wordt geladen...

Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York Springer 2008
Onderwerpen:
Omschrijving
Beschrijving item:
Fysieke beschrijving:xii, 405p.
ISBN:9780387747460