Carregant...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
New York
Springer
2008
|
| Matèries: |
| Descripció de l’ítem: | |
|---|---|
| Descripció física: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |