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Nanometer technology designs:high quality delay tests
| 1. Verfasser: | |
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| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Springer
2008
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| Schlagworte: |
| Beschreibung: | |
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| Beschreibung: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |