Wordt geladen...
Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2008
|
| Onderwerpen: |
| Beschrijving item: | |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |