Загрузка...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Предметы: |
UL
| Шифр: |
621.9 WAN |
|---|---|
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |