Загрузка...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Главный автор: | Wang, Laung-Terng (ed. by) |
|---|---|
| Другие авторы: | Stround, Charles E. Touba, Nur A. |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Предметы: |
Схожие документы
-
VLSI test principles and architectures: design for testability
по: Wang, laung-Terng [ed.]
Опубликовано: (2006) -
Basic VLSI design
по: Pucknell,Douglas A
Опубликовано: (2008) -
Design of system on a chip : devices & components /
Опубликовано: (2004) -
VLSI handbook
по: Giacomo, Joseph Di, Ed
Опубликовано: (1989) -
VLSI design
по: Kishore, Lal K
Опубликовано: (2011)