Ładuje się......

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Opis bibliograficzny
1. autor: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Kolejni autorzy: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Boston Morgan Kaufmann 2008
Hasła przedmiotowe:

Podobne zapisy