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System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| 第一著者: | Wang, Laung-Terng (ed. by) |
|---|---|
| その他の著者: | Stround, Charles E. Touba, Nur A. |
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| 主題: |
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