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System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Autore principale: | Wang, Laung-Terng (ed. by) |
|---|---|
| Altri autori: | Stround, Charles E. Touba, Nur A. |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Soggetti: |
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