लोड हो रहा है...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Wang, Laung-Terng (ed. by)
अन्य लेखक: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
स्वरूप: Printed Book
भाषा:English
प्रकाशित: Boston Morgan Kaufmann 2008
विषय:

समान संसाधन