Llwytho...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Prif Awdur: | Wang, Laung-Terng (ed. by) |
|---|---|
| Awduron Eraill: | Stround, Charles E. Touba, Nur A. |
| Fformat: | Printed Book |
| Iaith: | English |
| Cyhoeddwyd: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Pynciau: |
Eitemau Tebyg
-
VLSI test principles and architectures: design for testability
gan: Wang, laung-Terng [ed.]
Cyhoeddwyd: (2006) -
Basic VLSI design
gan: Pucknell,Douglas A
Cyhoeddwyd: (2008) -
Design of system on a chip : devices & components /
Cyhoeddwyd: (2004) -
VLSI handbook
gan: Giacomo, Joseph Di, Ed
Cyhoeddwyd: (1989) -
VLSI design
gan: Kishore, Lal K
Cyhoeddwyd: (2011)