Llwytho...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Awduron Eraill: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Fformat: Printed Book
Iaith:English
Cyhoeddwyd: Boston Morgan Kaufmann 2008
Pynciau:

Eitemau Tebyg