Loading...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Andre forfattere: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: Boston Morgan Kaufmann 2008
Fag:

UL

Detaljer om beholdninger fra UL
Klassifikationsnummer: 621.9 WAN
Kopi Live Status Unavailable