载入...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

书目详细资料
主要作者: Wang, Laung-Terng (ed. by)
其他作者: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
格式: Printed Book
语言:English
出版: Boston Morgan Kaufmann 2008
主题:
实物特征
Item Description:
实物描述:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735