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System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

書目詳細資料
主要作者: Wang, Laung-Terng (ed. by)
其他作者: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
格式: Printed Book
語言:English
出版: Boston Morgan Kaufmann 2008
主題:
實物特徵
Item Description:
實物描述:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735